深圳市南皇電子有限公司長期提供SN74BCT8373ADW（品牌: TI）充足現(xiàn)貨訂購、免費樣品

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圖片信息

基本技術信息：

電子器件型號：SN74BCT8373ADW

技術標準參數(shù)：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

產(chǎn)品應用分類：邏輯 - 專用邏輯

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技術參數(shù)詳解：

制造商產(chǎn)品型號：SN74BCT8373ADW

制造商：Texas Instruments

描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

產(chǎn)品系列：邏輯 - 專用邏輯

包裝：管件

系列：74BCT

零件狀態(tài)：有源

邏輯類型：掃描測試設備，帶 D 型鎖存器

供電電壓：4.5V ~ 5.5V

位數(shù)：8

工作溫度：0°C ~ 70°C

安裝類型：表面貼裝型

產(chǎn)品封裝：24-SOIC（0.295，7.50mm 寬）

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